扫描探针显微镜

仪器名称：扫描探针显微镜

仪器型号：SPM-9700HT

生产厂家：日本岛津有限公司

仪器简介：扫描探针显微镜广泛应用于材料科学、生命科学、医疗、制药等领域。它利用细微的探针在样品表面上一边扫描，一边将探针与样品之间相互作用的某种物理量检测出来，对表面进行高放大倍率观察。本台仪器包含动态、接触、相位、力调制、表面电势模式。

主要技术指标：

1、测试区域；一般在10 μm以内

2、探针种类及其力常数：高分子材料样品/软硬适中样品一般在0.1~10 N/m；玻璃、陶瓷、金属硬样品在10~42 N/m

送样要求：

1、样品状态：可为粉末、块体、薄膜样品；

2、粉末样品：常规测试项目样品起伏一般不超过5 μm，特殊测试项目样品起伏一般不超过1 μm，粉末样品测试很难测到较好结果，请确保风险可接受；

3、薄膜或块状样品尺寸要求：样品大小最大为15×15 mm，厚度最厚8 mm；表面粗糙度不超过10um，一定要标明测试面。

4、测试KFM的材料需要将样品制备在导电基底上，基底大小符合块状样品的尺寸要求，KFM的样品需要导电或至少为半导体；KFM测试需要样品表面十分平整，样品粗糙度最好在10-200 nm之间。

5、样品上下表面整洁，没有油渍灰尘等污染物；如样品易受潮，要做防潮处理。